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    Titel :

    Topography measurement of nanometer synchrotron optics [4782-02]



    Kongress:

    conference, X-ray mirrors crystals and multilayers ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Challenges for synchrotron x-ray optics [4782-01]

    Freund, A. K. / International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2002


    Nr. 4782

    DataCite | 1937


    Irradiation of EUV multilayers optics with synchrotron radiation of a different time structure [4782-39]

    Klein, R. / Scholze, F. / Thornagel, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Nickel-plated invar mirrors for synchrotron radiation beam lines [4782-12]

    Howells, M. R. / Burt, P. / Cambie, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    High-resolution carbon/carbon multilayers [4782-22]

    Baranov, A. M. / Dietsch, R. / Holz, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002