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    Titel :

    High-resolution carbon/carbon multilayers [4782-22]



    Kongress:

    conference, X-ray mirrors crystals and multilayers ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4782

    DataCite | 1937


    Microstructure of Mo/Si multilayers with barrier layers [4782-25]

    Braun, S. / Mai, H. / Moss, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Heat stability of Mo/Si multilayers inserted with silicon oxide layers [4782-37]

    Ishino, M. / Yoda, O. / Sano, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Topography measurement of nanometer synchrotron optics [4782-02]

    Illemann, J. / Geckeler, R. D. / Weingartner, I. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Temperature-dependence perturbations on LTP measurements [4782-04]

    Sostero, G. / Bianco, A. / Zangrando, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002