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    Titel :

    Portable residual stress measurement device using ESPI and a radial in-plane interferometer [4420-13]



    Kongress:

    Technical conference, Laser metrology for precision measurement and inspection in industry ; 1999 ; Florianopolis, Brazil



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    11 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Robust spatial phase-stepping ESPI system [4420-17]

    Sesselmann, M. / Albertazzi, A. / Society for Optical Engineering et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Application of endoscopic ESPI in NDI [4420-12]

    Hack, E. K. / Society for Optical Engineering / IMEKO - The International Measurement Confederation et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Comparison of strain/stress measurements on free form surfaces using ESPI and strain gauge technique [4420-14]

    de Lemos, J. / Mischo, H. K. / Pfeifer, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Nr. 4420

    DataCite | 1930


    Vibration measurement using ESPI

    Krupka, R. / Walz, T. / Ettemeyer, A. et al. | Tema Archiv | 2002