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    Titel :

    Life testing and failure analysis of GaN/AlGaN/InGaN light-emitting diodes (Invited Paper) [3004-16]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers II ; 1997 ; San Jose; CA



    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Life Tests and Failure Mechanisms of GaN/AlGaN/InGaN Light Emitting Diodes

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1998


    400nm InGaN/GaN and InGaN/AlGaN multiquantum well light-emitting diodes

    Chang, S.J. / Kuo, C.H. / Su, Y.K. et al. | IEEE | 2003


    400nm InGaN/GaN and InGaN/AlGaN Multiquantum Well Light-emitting Diodes

    Chang, S. J. / Kuo, C. H. / Su, Y. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Vertical-cavity surface-emitting lasers: the applications (Invited Paper) [3004-13]

    Morgan, R. A. / Lehman, J. A. / Hibbs-Brenner, M. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Life tests of Nichia AlGaN/InGaN/GaN blue-light emitting diodes [2683-13]

    Helms, C. J. / Berg, N. H. / Barton, D. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996