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    Titel :

    Life Tests and Failure Mechanisms of GaN/AlGaN/InGaN Light Emitting Diodes



    Kongress:

    Annual meeting; 11th, IEEE: Lasers and Electro-Optics Society; LEOS '98 ; 1998 ; Orlando; FL



    Erscheinungsdatum :

    1998-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 98CH36243




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Life tests of Nichia AlGaN/InGaN/GaN blue-light emitting diodes [2683-13]

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    Chang, S.J. / Kuo, C.H. / Su, Y.K. et al. | IEEE | 2003


    400nm InGaN/GaN and InGaN/AlGaN Multiquantum Well Light-emitting Diodes

    Chang, S. J. / Kuo, C. H. / Su, Y. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


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