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    Titel :

    Reliability of lithium niobate Annealed Proton Exchanged integrated optical circuits [2481-14]


    Beteiligte:
    Kissa, K. M. (Autor:in) / Eng, H. (Autor:in) / Lewis, D. K. (Autor:in) / Rodino, V. D. (Autor:in) / Pirich, A. R. / SPIE

    Kongress:

    Meeting, Photonic device engineering for dual-use applications ; 1995 ; Orlando; FL



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1995


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Vacuum Sensitivity of Annealed Proton-Exchanged Integrated Optical Circuits (AAS 08-044)

    Lipeles, R. / Coffer, J. / American Astronautical Society | British Library Conference Proceedings | 2008



    Accurate semi-empirical model for annealed proton exchanged waveguides in z-cut lithium niobate

    Roussev, R. / Xiuping Xie, / Parameswaran, K. et al. | IEEE | 2003


    Nr. 2481

    DataCite | 1893


    UV-written channel waveguides in proton-exchanged lithium niobate

    Gallo, K. / Gawith, C.B.E. / Prawiharjo, J. et al. | IEEE | 2004