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    Titel :

    Interferometric Imaging Technique for Nondestructive Evaluation of Optoelectronic Devices and Wafers



    Kongress:

    7th Annual meeting, LEOS '94 ; 1994 ; Boston; MA


    Erschienen in:

    LEOS '94 ; 31-32


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    In 2 vols; IEEE Cat no 94CH3371-2



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Incoherent interferometric measurement technique for PLC devices

    Wei Chen, / Zhipeng Wang, / Chen, Y.J. | IEEE | 2003


    Incoherent interferometric measurement technique for PLC devices

    Chen, W. / Wang, Z. / Chen, Y. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



    A nondestructive automated defect detection system for silicon carbide wafers

    Kubota, T. / Talekar, P. / Ma, X. et al. | British Library Online Contents | 2005


    A Versatile Nondestructive Evaluation Imaging Workstation

    United States; National Aeronautics and Space Administration | British Library Conference Proceedings | 1993