Das an anderer Stelle beschriebene elektromagnetische Mikroskop arbeitet als Wirbelstromscanner, mit dem Flugzeugoberflächen mit Nietverbindungen abgetastet werden können. Die Wirbelstromsonde besteht aus einer Treiber- und einer Sensorspule, die bei 5 K in supraleitendem Zustand betrieben werden. Die Treiberspule wird mit einer Pulsfrequenz von 100 Hz gespeist. Der durch einen Riß bewirkte Kopplungsunterschied zwischen beiden Spulen wird von einem entfernt liegenden induktiv angekoppelten SQUID in Picohenry gemessen. In der vorliegenden Arbeit werden die Ergebnisse von Messungen an Testrissen unterschiedlicher Tiefenlage und Ausdehnung bei unterschiedlichen Sensorspulengrößen zwischen 2 und 5 mm vorgestellt. Die Nachweisgrenze beginnt für einen 1,5 mm2 großen Riß bei 3 mm Tiefenlage und für einen 10 mm2 großen Riß bei 7 mm. Geräteverbesserungen werden die Nachweisgrenze auf 1 mm2 Rißfläche ab 10 mm Tiefenlage steigern. (Richter, H.)


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    Title :

    Electromagnetic microscope for low frequency, pulsed, eddy current evaluation of airframes


    Additional title:

    Elektromagnetisches Mikroskop zur Prüfung von Flugzeugstrukturen mit niederfrequentem gepulsten Wirbelstrom


    Contributors:
    Podney, W. (author)


    Publication date :

    1998


    Size :

    8 Seiten, 10 Bilder, 3 Quellen



    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




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    Electromagnetic microscope compared with a conventional pulsed eddy-current probe [3397-36]

    Podney, W. N. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1998


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