Diesmal wurde aus den Einzelsonden der flexiblen 'Eddy Current Array Probe' (ECAP) eine größere Einzelsonde 'Single Element Eddy Current Probe' (SECAP) entwickelt die in Mikrochiptechnik mit integriertem Vorverstärker (20 dB; Impedanzanpassung) aufgebaut ist. Sie kann an üblichen Wirbelstromgeräten betrieben werden, ist langestreckt (30 mm), geschirmt und in Differenzanordnung geschaltet. Die Sonden wurden für die Prüfung von gekrümmten Triebwerksoberflächen aus Titan entwickelt. Die Anwendung wird durch Abtastung einer Platte (Breite cs 30 mm) mit funkenerosiv hergestellten Schlitzen (z.B. 0,150 x 0,075 x 0,075 mm3) demonstriert (Frequenz 3 MHz). Die Sonde soll für die Prüfung stärker gekrümmter Oberflächen und Ecken weiter entwickelt werden. (Stadthaus, M.)


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    Title :

    Development of a hand-held, flexible eddy current probe for inspection of curving surfaces


    Additional title:

    Entwicklung einer handgeführten flexiblen Wirbelstromsonde zur Prüfung gekrümmter Oberflächen


    Contributors:
    Patton, T. (author) / Filkins, R. (author) / Fulton, J. (author) / Hedengren, K. (author) / Young, J. (author) / Granger, C. (author) / Hewton, T. (author)


    Publication date :

    1997


    Size :

    5 Seiten, 5 Bilder, 3 Quellen



    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




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