An die Kraftfahrzeugelektronik werden besonders hohe EMV-Anforderungen (Störfestigkeit, Störaussendung) gestellt. Maßnahmen zur Sendung von Störaussendungen müssen vor allem beim Entwurf integrierter Schaltungen (IC) realisiert werden. Ein darüber vermittelter Überblick geht zunächst auf geeignete Meßverfahren zur Beurteilung von ICs ein sowie auf die Meßphilosopie. Anmerkungen zu Meßmethoden für integrierte Halbleiterschaltungen (1-Ohm-Methode, HF-Spannungsmessung an den Ein- und Ausgängen) werden gemacht. Danach berichtet man in Verbindung mit mehreren Systemskizzen über verschiedene Meßkonfigurationen (EMC-IC-Testboard, Test-Platine für IC-Prüfungen). Anhand mehrerer Prinzipskizzen wird dann über die Auslegung der Testschaltung berichtet. Sie erstreckt sich auf den Meßspannungsteiler, Stromtastkopf, Anforderung an das HF-Meßgerät und den Betrieb der Testobjekte. Zum Schluß erfolgt eine Bewertung der gemessenen Störsignale (Zeitfunktion/Spektrum eines Trapezpulses). Die genannten Meßmethoden zur Qualifizierung von Halbleiter-Bausteinen liefern bei vertretbarem Aufwand typische Daten der Störaussendung.


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    Title :

    Meßverfahren zur Qualifizierung integrierter Halbleiterschaltungen


    Contributors:
    Pfaff, W.R. (author)


    Publication date :

    1996


    Size :

    12 Seiten, 8 Bilder, 7 Quellen



    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    German





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