Eine bei der MW AG in Zusammenarbeit mit der BeOne München GmbH und der TU München entwickelte Priorisierungs-Methodik leistet einen wesentlichen Beitrag zur Konzentration der Testaktivitäten auf wesentliche Testumfänge. Ein zweistufiges Vorgehen wurde hierzu entwickelt: Zunächst nehmen die Entwickler mit einer regelbasierten Entscheidungslogik eine erste Priorisierung der Testfälle vor. Daraufaufbauend kann in Stufe 2 eine Fein-Priorisierung mittels des so genannten analytischen/hierarchischen Prozesses (AHP) durchgeführt werden. Beim AHP handelt es sich um ein etabliertes Verfahren zur Lösung multikriterieller Entscheidungsprobleme. Die Methodik ist im Testmanagement operationalisiert. Neben den bereits berücksichtigten Einflussfaktoren existieren noch weitere, welche zur Priorität von Testaktivitäten herangezogen werden konnten. Lieferantenbewertungen oder Innovationsgrad können Beispiele hierfür sein. Bei Berücksichtigung solcher Einflüsse zweiter Ordnung kann die Präzision und Wirksamkeit der Priorisierung weiter erhöht werden.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library

    Order at Subito €


    Export, share and cite



    Title :

    Fokussierung auf den Testprozess. Methoden zur Testfall-Priorisierung


    Additional title:

    Testing process focusing. Testing priority methods


    Contributors:

    Published in:

    ATZ-Elektronik ; 4 , 3 ; 42-48


    Publication date :

    2009


    Size :

    7 Seiten, 5 Bilder, 2 Tabellen, 9 Quellen



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




    Fokussierung auf den Testprozess - Methoden zur Testfall Priorisierung

    Le,H.Q. / Friedl,N. / Ramsbrock,J. et al. | Automotive engineering | 2009


    Werkzeugkopplung im Testprozess

    Stuecka,R. / Burmester,S. / Voss,A. et al. | Automotive engineering | 2006


    Automatisierter Closed Loop Testprozess fuer Steuergeraetefunktionen

    Rebeschiess,S. / Liebezeit,T. / Bazarsuren,U. et al. | Automotive engineering | 2007


    Automatisierter Closed-Loop-Testprozess für Steuergerätefunktionen

    Rebeschieß, Sven / Liebezeit, Thomas / Bazarsuren, Uzmee et al. | Tema Archive | 2007


    Automatisierter Closed-Loop-Testprozess für eingebettete Steuergerätefunktionen

    Rebeschieß, Sven / Bazarsuren, Uzmee / Liebezeit, Thomas et al. | Tema Archive | 2007