Anfang 2005 wurde eine gemeinsame Arbeitsgruppe Robustness Validation aus Vertretern des ZVEI Fachverbandes Electronic Components and Systems (ECS), des SAE (Society of Automotive Engineers) und des JSAE (Japanese SAE) mit dem Ziel gebildet, den aus den 70er Jahren stammenden SAE Standard J1879 zu überarbeiten. Das AEC (Automotive Electronic Council) war hierin mit einbezogen. Teilnehmer waren wesentliche internationale KFZ-Hersteller, deren Zulieferer und Halbleiterhersteller. Das gemeinsam erarbeitete Ergebnis wurde im April 2007 als Handbook for Robustness Validation of Semiconductor Devices in Automotive Applications veröffentlicht und kann über den ZVEI bezogen werden. Hierin findet ein Paradigmenwechsel von der stressbasierten Qualifikation (= Fit for Standard) zu einer wissensbasierten Qualifikation (= Fit for Application) statt.

    In 2005 Members of SAE International Automotive Electronic Systems Reliability Standards Committee, ZVEI (German Electrical and Electronic Manufacturers' Association), AEC (Automotive Electronics Council) and JSAE (Japanese Society of Automotive Engineers) formed a joint task force and met to update SAE Recommended Practice J1879-October- 1988 (General Qualification and Production Acceptance Criteria for Integrated Circuits in Automotive Applications). A new knowledge-based approach (=fit for Application) to understanding and preventing the occurrence of the relevant component failure mechanisms was required rather then the old qualification 'test-to-pass' approach (=fit for Standard). The joint task force concluded that the J1879 Recommended Practice should be revised to encompass a Robustness Validation approach and in April 2007 the 'Handbook for Robustness Validation of Semiconductor Devices in Automotive Applications' was published. This Handbook that can be ordered from the ZVEI is based on information from a wide number of sources including international Automotive OEMs and their full supply chain, engineering societies, and other related organizations.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library

    Order at Subito €


    Export, share and cite



    Title :

    Robustness Validation - verbessertes Qualifikationsverfahren für Halbleiter im Automobil


    Additional title:

    Robustness validation - an improved qualification procedure for semiconductor devices


    Contributors:
    Keller, H. (author)


    Publication date :

    2007


    Size :

    12 Seiten, 5 Bilder, 9 Tabellen




    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    German





    Interviews - Halbleiter im Automobil

    Automotive engineering | 2008


    VERBESSERTES FLURFÖRDERFAHRZEUG

    SCHWIMMER HELMUT / REMLINGER MARKUS / OAKEY NADIA et al. | European Patent Office | 2018

    Free access

    Verbessertes Flurförderfahrzeug

    SCHWIMMER HELMUT / REMLINGER MARKUS / OAKEY NADIA et al. | European Patent Office | 2018

    Free access

    VERBESSERTES INSASSENKOLLISIONSSICHERHEITSSYSTEM

    CAMPOS MACIAS LEOBARDO / ZAMORA ESQUIVEL JULIO CESAR / FELIP LEON JAVIER et al. | European Patent Office | 2023

    Free access