Den Bustreibern (Transceivern) für die Systeme CAN und LIN sowie zukünftig auch FlexRay kommt in der Fahrzeug-EMV eine zentrale Bedeutung zu, da diese eine der physischen Schnittstellen der Steuergeräte zum Kabelbaum und damit zu einer - meist über das gesamte Fahrzeug verteilten - Netzstruktur bilden. Auf Grund des verteilen Aufbaus dieser Bussysteme müssen alle Teilnehmer ausreichende EMV-Eigenschaften aufweisen. Um dies sicher zustellen, muss der Fahrzeughersteller die Koordination der EMV-Aktivitäten übernehmen und die Entwicklungsvorgaben sowie Freigabekriterien definieren. Diese Aufgabe wird von den Fahrzeugherstellern in unterschiedlicher Weise umgesetzt. Beginnend mit dem CAN- Bus hat sich ein Qualifikationsprozess etabliert, der alle Hardware-Komponenten der physikalischen Übertragungsschicht einschließt. So müssen Controller mit CAN-Interface und Bustreiber einem Konformitätstest zur Systemintegrität durchlaufen. Zur Bewertung der EMV-Eigenschaften von Transceivern der Bussysteme CAN und LIN haben sich Testspezifikationen auf der Basis von IC- Messverfahren erfolgreich etabliert. Die Testspezifikationen basieren auf dem gleichen Ansatz und definieren derzeitig nur Messverfahren und Testparameter aber keine Limits Die Gegenüberstellung der Ergebnisse von Fahrzeug- und IC- Messungen auf der Basis der Testspezifikationen zeigt eine sehr gute Überstimmung und gibt eine Hilfestellung zur Definition notwendiger Limits.


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    Title :

    Vorgehensweise bei der EMV- Bewertung von Halbleitern am Beispiel der Transceiver- Qualifikation


    Additional title:

    Ways to evaluate EMC-behaviour of electronics shown for the transeiver qualification


    Contributors:
    Körber, Bernd (author) / Sperling, D. (author) / Mayer, M.O. (author) / Sabbert, D. (author)


    Publication date :

    2005


    Size :

    7 Seiten, 9 Bilder, 1 Tabelle, 8 Quellen




    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




    Vorgehensweise bei der EMV-Bewertung von Halbleitern am Beispiel der Transceiver-Qualifikation

    Körber, Bernd / Sperling, D. / Mayer, M.-O. et al. | VDE-Verlag | 2005


    Vorgehensweise und Versuchsbeschreibung

    Eder, Julian Christoph | Springer Verlag | 2021


    Messkonzepte und Vorgehensweise

    Stoo, Roland | IuD Bahn | 2004


    Vorgehensweise zur systematischen Rationalisierung

    Warschat,J. / Fraunhofer-Gesell.,Inst.f.Produkt.-Tech.u.Automatisier., Stuttgart | Automotive engineering | 1977


    Test von Kfz-Halbleitern

    Fuchs,S. / Advantest,DE | Automotive engineering | 2012