Die Spezifikation CDF-AEC-Q200 Rev. A für die Belastungsprüfungen zur Qualifikation passiver Elektronikteile für Kraftfahrzeuge wird vorgestellt, soweit sie oberflächenmontierte Keramikkondensatoren betrifft. Diese Spezifikation beinhaltet 28 Qualifizierungsprüfungen, von denen 22 für SMD-Kondensatoren von Bedeutung sind. Die wichtigsten Prüfungen wie Temperaturzyklen, zerstörende Prüfungen zur Feststellung von Löchern in den dielektrischen Schichten, Delaminationen u.a., Betrieb bei 85 Grad C in 85 % relativer Luftfeuchte, beschleunigte Lebensdauerprüfungen, Beständigkeit gegenüber der Temperaturbelastung beim Löten, gegenüber thermischem Schock, elektrostatischer Entladung (ESD) sowie Lötbarkeit, Verhalten bei Biegung der Leiterplatte, Bruchfestigkeit des Kondensators usw. werden beschrieben.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library


    Export, share and cite



    Title :

    Qualification testing on ceramic chip capacitors for the automotive industry


    Additional title:

    Qualifizierungsprüfung keramischer Chip-Kondensatoren für die Automobilindustrie


    Contributors:


    Publication date :

    2000


    Size :

    9 Seiten, 3 Bilder, 2 Tabellen


    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    English