Die Randschicht von Aluminiumgußteilen aus der Al-Si-Cu-Legierung 319 wurde mit einem Ultraschallmikroskop auf Gas- und Schrumpfporen sowie auf Risse geprüft. Die Teile werden in der Automobilindustrie eingesetzt und müssen bestimmte Kriterien bezüglich der genannten Fehler erfüllen. Das verwendete russische Gerät erlaubt ein Abscannen von 80 x 120 mm2 großen Bereichen mit fokussierten Prüfköpfen bei Frequenzen zwischen 25 MHz und 100 MHz. Die Ergebnisse werden als C-Scans aus mehreren wählbaren Tiefenbereichen bis ca. 2 mm Tiefe dargestellt. In diese C-Scans können an frei wählbare Positionen B-Scans gelegt werden, so dass eine dreidimensionale Darstellung in Form von Projektionen und Schnitten erhalten wird. Die Leistungsfähigkeit des Geräts wird mit Bildern von einem Testkörper mit zahlreichen Poren demonstriert. (Richter, H.)


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    Title :

    Analysis of casting subsurface structure using acoustic microscopy


    Additional title:

    Untersuchung der Randschicht von Gußteilen mittels Ultraschallmikroskopie


    Contributors:
    Maev, R.G. (author) / Sokolowski, J.H. (author) / Lee, H.T. (author) / Maeva, E.Y. (author) / Maslov, K.I. (author)


    Publication date :

    1999


    Size :

    6 Seiten, 1 Bild, 1 Tabelle, 7 Quellen



    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




    Programmable subsurface acoustic recording system

    Villemarette, G.P. | Tema Archive | 1988


    Quantitative Investigation of Surface and Subsurface Cracks Near Rivets in Riveted Joints Using Acoustic, Electron and Optical Microscopy

    Connor, Z. M. / Fine, M. E. / Achenback, J. D. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Deep sea acoustic launching subsurface buoy

    CHEN XI / HAN YIDING / WANG HAIBIN et al. | European Patent Office | 2020

    Free access

    High spatial resolution subsurface thermal emission microscopy

    Ippolito, S.B. / Thorne, S.A. / Eraslan, M.G. et al. | IEEE | 2003


    High Spatial Resolution Subsurface Thermal Emission Microscopy

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003