Fuer Signalverarbeitungssysteme, die mit abtastenden Sensoren arbeiten, sind zwei Prozessanforderungen sehr wichtig: einmal Signalnachweis und Peak-Extraktion und zum anderen die Korrelation von Vielfachbildern. Die theoretischen Grundlagen fuer diese Prozesse werden ausfuehrlich behandelt, einige Fourier-Transformierte sind abgebildet.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library


    Export, share and cite



    Title :

    Peak detection methods for scanning optical sensor systems


    Additional title:

    Methoden zum Peak-Nachweis bei optischen Abtast-Empfaenger-Systemen


    Contributors:

    Published in:

    Optical Engineering ; 18 , 3 ; 306-312


    Publication date :

    1979


    Size :

    7 Seiten, 12 Bilder, 7 Quellen


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




    WINDOW CONTAMINATION SENSOR FOR OPTICAL DETECTION SYSTEMS

    RAY MARK / ANDERSON KAARE JOSEF | European Patent Office | 2018

    Free access

    Two-dimensional miniature optical-scanning sensor with silicon micromachined scanning mirror [3008-12]

    Ikeda, M. / Goto, H. / Totani, H. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Window contamination sensor for optical detection systems

    RAY MARK / ANDERSON KAARE JOSEF | European Patent Office | 2015

    Free access

    Novel Integrated Optical Displacement Sensor for Scanning Force Microscopies

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    WINDOW CONTAMINATION SENSOR FOR OPTICAL DETECTION SYSTEMS

    RAY MARK / ANDERSON KAARE JOSEF | European Patent Office | 2022

    Free access