Fuer Signalverarbeitungssysteme, die mit abtastenden Sensoren arbeiten, sind zwei Prozessanforderungen sehr wichtig: einmal Signalnachweis und Peak-Extraktion und zum anderen die Korrelation von Vielfachbildern. Die theoretischen Grundlagen fuer diese Prozesse werden ausfuehrlich behandelt, einige Fourier-Transformierte sind abgebildet.
Peak detection methods for scanning optical sensor systems
Methoden zum Peak-Nachweis bei optischen Abtast-Empfaenger-Systemen
Optical Engineering ; 18 , 3 ; 306-312
1979
7 Seiten, 12 Bilder, 7 Quellen
Article (Journal)
English
WINDOW CONTAMINATION SENSOR FOR OPTICAL DETECTION SYSTEMS
European Patent Office | 2018
|British Library Conference Proceedings | 1997
|Window contamination sensor for optical detection systems
European Patent Office | 2015
|Novel Integrated Optical Displacement Sensor for Scanning Force Microscopies
British Library Conference Proceedings | 2003
|WINDOW CONTAMINATION SENSOR FOR OPTICAL DETECTION SYSTEMS
European Patent Office | 2022
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