Ein mit COS-, MOS- und SOS-Halbleiterbauelementen bestueckter 256 bit-RAM-Speicher und eine TA 6567-Baugruppen wurden aufihr Betriebsverhalten hin ueberprueft. Der Speicher wurde dabei sowohl mit Aluminium-Gate-Stromkreisen als auch mit Silizium-Gate-Spannungskreisen aufgebaut. Ueber die Stabilitaet der SOS-Beam-tead-Baugruppen, bei Verwendung von TA 5388-Bauelementen, wird abschliessend berichtet.
Design, processing and testing of LSI arrays for space station (Quarterly techn. rept. 1 Jul - 30 Sep 1974)
Entwurf, Arbeitsweise und Pruefung von Grossintegrations-Halbleiterbaugruppen fuer Raumfahrtstationen (Quartalsbericht)
NASA-Reports ; Nov. ; 1-34
1974
34 Seiten
Report
English
Component degradation: Braking system. Vol. II. Final techn. rept.
Tema Archive | 1974
|The deep space network (Progress rept. Jan.-Feb. 1974)
Tema Archive | 1975
The deep space network (Progress rept. Jul.-Aug.1974)
Tema Archive | 1974
AAFE man-made noise experiment project. Volume 3: Appendices(Final techn. rept.)
Tema Archive | 1974