Die im Beitrag beschriebenen laseroptischen Messmethoden und Speckle-Korrelationsverfahren zur Charakterisierung von Rauheiten technischer Oberflächen bzw. Material-Ermüdungszuständen infolge zyklischer Beanspruchung sind ein wesentlicher Bestandteil der Qualitätsprüfung in der industriellen Fertigung. Die Messdaten zur Untersuchung von Ermüdungszuständen metallischer Werkstoffe wurden bereits in-process aufgenommen. Mit dem Verfahren der zweifachen Lichtstreuung steht nun auch ein parametrisch optisches Rauheits-Messverfahren für sehr glatte technische Oberflächen (2 nm <= Ra <= 150 nm) zur Verfügung. In Verbindung mit dem polychromatischen Messverfahren (Messbereich 0,15 Mikrometer < Ra < 8 Mikrometer) können Oberflächenrauheiten in einem großen, technisch relevanten Bereich berührungslos und in-process gemessen werden.


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    Title :

    In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-Verfahren



    Published in:

    tm - Technisches Messen ; 67 , 10 ; 415-420


    Publication date :

    2000-01-01


    Size :

    6 pages



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German