There is provided mechanisms for aligning different DPCs of a physical object. A method is performed by an image processing device. The method comprises obtaining DPCs captured from different orbits around the physical object. The method comprises aligning the DPCs with each other. The method comprises selecting, in a first stage, a first DPC of the DPCs as a first reference DPC and individually aligning all remaining DPCs with the first reference DPC, resulting in a first alignment of the DPCs. The first alignment of the DPCs yields a first value of an alignment metric per each of the DPCs except the first DPC. The method comprises selecting, in a second stage, a second DPC of the DPCs as a second reference DPC and individually aligning all remaining DPCs, except the first DPC, with the second reference DPC, resulting in a second alignment of the DPCs. The second alignment of the DPCs yields a second value of the alignment metric per each of the DPCs except the first DPC and the second DPC. The method comprises selecting, for each of the DPCs except the first DPC and the second DPC, that of the first alignment of the DPCs and the second alignment of the DPCs yielding best value of the alignment metric.

    L'invention concerne des mécanismes d'alignement de différents DPC d'un objet physique. Un procédé est mise en œuvre par un dispositif de traitement d'images. Le procédé comprend l'obtention de DPC capturés à partir de différentes orbites autour de l'objet physique. Le procédé comprend l'alignement des DPC les uns avec les autres. Le procédé comprend la sélection, dans une première étape, d'un premier DPC des DPC en tant que premier DPC de référence et l'alignement individuel de tous les DPC restants avec le premier DPC de référence, ce qui permet d'obtenir un premier alignement des DPC. Le premier alignement des DPC produit une première valeur d'un indice de mesure d'alignement pour chacun des DPC à l'exception du premier DPC. Le procédé comprend la sélection, dans une deuxième phase, d'un deuxième DPC des DPC en tant que deuxième DPC de référence et l'alignement individuel de tous les DPC restants, à l'exception du premier DPC, avec le deuxième DPC de référence, ce qui permet d'obtenir un deuxième alignement des DPC. Le deuxième alignement des DPC produit une deuxième valeur de l'indice de mesure d'alignement pour chacun des DPC, à l'exception du premier DPC et du deuxième DPC. Le procédé comprend la sélection, pour chacun des DPC à l'exception du premier DPC et du deuxième DPC, de celui du premier alignement des DPC et du deuxième alignement des DPC qui produit la meilleure valeur de l'indice de mesure d'alignement.


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    Title :

    ALIGNMENT OF DENSE POINT CLOUDS OF A PHYSICAL OBJECT


    Additional title:

    ALIGNEMENT DE NUAGES DE POINTS DENSES (DPC) D'UN OBJET PHYSIQUE


    Contributors:
    WAN FENGKAI (author) / GAO JIANGNING (author)

    Publication date :

    2022-12-08


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    English


    Classification :

    IPC:    G06T Bilddatenverarbeitung oder Bilddatenerzeugung allgemein , IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL / B64C AEROPLANES , Flugzeuge / G01S RADIO DIRECTION-FINDING , Funkpeilung



    ALIGNMENT OF DENSE POINT CLOUDS OF A PHYSICAL OBJECT

    WAN FENGKAI / GAO JIANGNING | European Patent Office | 2024

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