Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein Testsystem zum Testen eines Messsystems, insbesondere ein Messsystem zur Abstandsmessung speziell bei Automobilen insbesondere ein Lidar, bei dem das Messsystem einen Messtakt aufweist und periodisch mit dem Messtakt (PIN) getaktet jeweils einen Messpuls (PIN1, PIN2) aussendet, wobei der Messpuls von einem Testsystem erfasst wird, welches einen Ausgangspuls erzeugt und diesen an das Messystem übermittelt, wobei der Ausgangspuls (POUT) bezogen auf den Messpuls um eine Verzögerungszeit (D) verzögert abgegeben wird, die sich zusammensetzt aus einem Vielfachen des Messtaktes (Tp) zuzüglich einer Simulations-Verzögerung (VD'), die zu einer simulierten, vorgegebenen Laufzeit des Messpulses korreliert. Bevorzugt weist das Testsystem einen Systemtakt mit einem Taktsignal auf und eine Phasenverschiebung des Messpulses (PIN1, PIN2) in Relation zu dem Taktsignal wird ermittelt, wobei die Phasenverschiebung bei der Bestimmung der Verzögerungszeit berücksichtigt wird. Der Systemtakt liegt dabei typischerweise im Bereich von beispielsweise 2,5 ns bis 50 ns und speziell bei 10 ns, was einer Taktung von 100 MHz entspricht. Im Unterschied zum Systemtakt ist der Messtakt (Tp), also die Zykluszeit des Messtakt-Signals (PIN) deutlich, um beispielsweise den Faktor 1000 größer. Die Taktrate liegt beispielsweise im Bereich zwischen 10 kHz und 100 kHz, beispielsweise bei 50 kHz, was einem Messtakt (Tp) von 20 μs entspricht. Typische Pulsdauern des Messpulses liegen bei 200 ns. Es kann damit ein Abstand eines Gegenstands simuliert werden kann, dessen Abstand innerhalb des Abstandsbereichs vom Messsystem zum Testsystem liegt.

    The invention relates to a method and to a test system for testing a measuring system, in particular a measuring system for distance measurement, especially in automobiles, in particular a lidar, in which method the measuring system has a measuring rate and emits a measuring pulse (PIN1, PIN2) periodically clocked with the measuring rate (PIN), the measuring pulse being detected by a test system which generates an output pulse and transmits said output pulse to the measuring system, the output pulse (POUT) being emitted delayed with respect to the measuring pulse by a delay time (D) which is composed of a multiple of the measuring rate (Tp) plus a simulation delay (VD') which correlates to a simulated, predefined transit time of the measuring pulse. Preferably, the test system has a system clock comprising a clock signal, and a phase shift of the measuring pulse (PIN1, PIN2) in relation to the clock signal is determined, the phase shift being taken into account when determining the delay time. The system clock is typically in the range of, for example, 2.5 ns to 50 ns and especially 10 ns, which corresponds to a clock speed of 100 MHz. In contrast to the system clock, the measuring rate (Tp), i.e. the cycle time of the measuring rate signal (PIN), is significantly larger, for example by a factor of 1000. For example, the clock rate is in the range between 10 kHz and 100 kHz, for example 50 kHz, which corresponds to a measuring rate (Tp) of 20 μs. Typical pulse durations of the measuring pulse are 200 ns. This means it is possible to simulate a distance of an object, the distance of which is within the distance range from the measurement system to the test system.

    L'invention concerne un procédé et un système d'essai pour l'essai d'un système de mesure, en particulier un système de mesure pour une mesure de distance, notamment dans des automobiles, en particulier un lidar, dans lequel procédé le système de mesure possède une fréquence de mesure et émet une impulsion de mesure (PIN1, PIN2) cadencée périodiquement avec la fréquence de mesure (PIN), l'impulsion de mesure étant détectée par un système d'essai qui génère une impulsion de sortie et transmet ladite impulsion de sortie au système de mesure, l'impulsion de sortie (POUT) étant émise de manière retardée par rapport à l'impulsion de mesure d'un temps de retard (D) qui est composé d'un multiple de la fréquence de mesure (Tp) plus un retard de simulation (VD') qui est corrélé à un temps de transit prédéfini simulé de l'impulsion de mesure. De préférence, le système d'essai possède une horloge système comprenant un signal d'horloge, et un déphasage de l'impulsion de mesure (PIN1, PIN2) en lien avec le signal d'horloge est déterminé, le déphasage étant pris en compte lors de la détermination du temps de retard. L'horloge système est typiquement dans la plage de, par exemple, 2,5 ns à 50 ns et notamment de 10 ns, ce qui correspond à une vitesse d'horloge de 100 MHz. Contrairement à l'horloge système, la fréquence de mesure (Tp), c'est-à-dire le temps de cycle du signal de fréquence de mesure (PIN), est significativement plus grand, par exemple d'un facteur 1000. Par exemple, la fréquence d'horloge est dans la plage entre 10 kHz et 100 kHz, par exemple 50 kHz, ce qui correspond à une fréquence de mesure (Tp) de 20 µs. Des durées d'impulsion typiques de l'impulsion de mesure sont de 200 ns. Ceci signifie qu'il est possible de simuler une distance d'un objet, dont la distance est au sein de la plage de distances, du système de mesure au système d'essai.


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    Title :

    VERFAHREN ZUM TESTEN EINES MESSSYSTEMS SOWIE TESTSYSTEM


    Additional title:

    METHOD FOR TESTING A MEASURING SYSTEM, AND TEST SYSTEM
    PROCÉDÉ POUR L'ESSAI D'UN SYSTÈME DE MESURE, ET SYSTÈME D'ESSAI


    Contributors:

    Publication date :

    2022-10-06


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German


    Classification :

    IPC:    G01S RADIO DIRECTION-FINDING , Funkpeilung / B60W CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION , Gemeinsame Steuerung oder Regelung von Fahrzeug-Unteraggregaten verschiedenen Typs oder verschiedener Funktion / H03K PULSE TECHNIQUE , Impulstechnik




    VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MASCHINENEIGENEN MESSSYSTEMS

    LICHTBERGER BERNHARD | European Patent Office | 2021

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    EINKOPPELVORRICHTUNG ZUM EINKOPPELN EINES RIPPELSTROMES, TESTSYSTEM, SOWIE EINKOPPELVERFAHREN

    GREUL ROLAND / MAST JOCHEN / KÖNIG OLIVER et al. | European Patent Office | 2021

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    VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MASCHINENEIGENEN MESSSYSTEMS

    LICHTBERGER BERNHARD | European Patent Office | 2023

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    VERFAHREN ZUM ÜBERWACHEN EINES FAHRERS EINES FAHRZEUGS MITTELS EINES MESSSYSTEMS

    KABANY MOHAMMAD | European Patent Office | 2021

    Free access