An elevator-door abnormality detection device according to the present invention is configured to detect, from the start to the end of a car-door opening/closing operation: a first-level abnormality, which serves as an elevator-door abnormality, when a first count, for which a load-current-difference value reaches or exceeds a first reference value, reaches or exceeds a first set count; and a second-level abnormality, which serves as an elevator-door abnormality and is lower in urgency than the first-level abnormality, when a second count, for which the load-current-difference value is less than the first reference value and reaches or exceeds a second reference value, reaches or exceeds a second set count.
L'invention concerne un dispositif de détection d'anomalie de porte d'ascenseur configuré pour détecter, du début à la fin d'une opération d'ouverture/fermeture de porte de cabine : une anomalie de premier niveau, qui sert d'anomalie de porte d'ascenseur, lorsqu'un premier comptage, pour lequel une valeur de différence de courant de charge atteint ou dépasse une première valeur de référence, atteint ou dépasse une première valeur de référence; et une anomalie de deuxième niveau, qui sert d'anomalie de porte d'ascenseur et est moins urgente que l'anomalie de premier niveau, lorsqu'un deuxième comptage, pour lequel la valeur de différence de courant de charge est inférieure à la première valeur de référence et atteint ou dépasse une deuxième valeur de référence, atteint ou dépasse une deuxième valeur de référence.
エレベータ扉の異常検出装置は、かご扉の開閉動作の開始から終了までの間において、負荷電流差分値が第1の基準値以上になる第1の回数が第1の設定回数以上になる場合には、エレベータ扉の異常として第1のレベルの異常を検出し、負荷電流差分値が第1の基準値未満となり、かつ第2の基準値以上になる第2の回数が第2の設定回数以上になる場合には、エレベータ扉の異常として第1のレベルよりも緊急度の低い第2のレベルの異常を検出するように構成されている。
ELEVATOR-DOOR ABNORMALITY DETECTION DEVICE
DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE PORTE D'ASCENSEUR
エレベータ扉の異常検出装置
2018-08-30
Patent
Electronic Resource
Japanese
IPC: | B66B Aufzüge , ELEVATORS |
European Patent Office | 2017
|Abnormality detection device and method for elevator door
European Patent Office | 2023
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