실시예들은 다중 신호 경로들을 사용하는 센서 자체 진단을 위한 시스템들 및 방법들에 관한 것이다. 실시예에서, 센서들은 자계 센서들이고, 시스템들 및/또는 방법들은 SIL 표준들과 같은, 관련된 안전도 또는 다른 산업 표준들을 충족시키거나 초과하도록 구성된다. 예를 들어, 단일 반도체 칩 상에 구현된 모놀리식 집적 회로 센서 시스템은 반도체 칩 상에 제1 센서 신호를 위한 제1 신호 경로를 갖는 제1 센서 디바이스; 및 반도체 칩 상에 제2 센서 신호를 위한 제2 신호 경로를 갖는 제2 센서 디바이스를 포함할 수 있고, 제2 신호 경로는 제1 신호 경로와 구별되고, 제1 신호 경로 신호와 제2 신호 경로 신호의 비교가 센서 시스템 자체 테스트를 제공한다.
SENSOR SELF-DIAGNOSTICS USING MULTIPLE SIGNAL PATHS
다중 신호 경로들을 사용하는 센서 자체 진단
2019-11-12
Patent
Electronic Resource
Korean
IPC: | G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B60T Bremsanlagen für Fahrzeuge oder Teile davon , VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF / B60W CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION , Gemeinsame Steuerung oder Regelung von Fahrzeug-Unteraggregaten verschiedenen Typs oder verschiedener Funktion |