To provide a probe data evaluation device and a probe data evaluation program designed to enable the reliability of probe data used in generating map data to be improved.SOLUTION: A probe data evaluation device 10 comprises: a probe data collection unit 21 for collecting probe data from vehicles; a temporary map data generation unit 22 for generating temporary map data on the basis of the probe data collected by the probe data collection unit; a comparison unit 23 for comparing the temporary map data generated by the temporary map data generation unit with reference map data; and a determination unit 24 for determining, on the basis of the result of comparison by the comparison unit, whether or not to adopt the probe data collected by the probe data collection unit.SELECTED DRAWING: Figure 1

    【課題】地図データの生成に用いられるプローブデータの信頼性を向上できるようにしたプローブデータ評価装置、および、プローブデータ評価プログラムを提供する。【解決手段】プローブデータ評価装置10は、車両からプローブデータを収集するプローブデータ収集部21と、前記プローブデータ収集部により収集されたプローブデータに基づいて仮地図データを生成する仮地図データ生成部22と、前記仮地図データ生成部により生成された仮地図データと基準地図データとを比較する比較部23と、前記比較部による比較結果に基づいて、前記プローブデータ収集部により収集されたプローブデータを採用するか否かを判定する判定部24と、を備える。【選択図】図1


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    Title :

    PROBE DATA EVALUATION DEVICE, AND PROBE DATA EVALUATION PROGRAM


    Additional title:

    プローブデータ評価装置、プローブデータ評価プログラム


    Contributors:

    Publication date :

    2020-06-11


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    Japanese


    Classification :

    IPC:    G01C Messen von Entfernungen, Höhen, Neigungen oder Richtungen , MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS / G08G Anlagen zur Steuerung, Regelung oder Überwachung des Verkehrs , TRAFFIC CONTROL SYSTEMS / G09B Unterrichts- oder Vorführungsgeräte , EDUCATIONAL OR DEMONSTRATION APPLIANCES



    PROBE DATA EVALUATION DEVICE, PROBE DATA EVALUATION PROGRAM

    NOMURA TOSHIO / MUTO SHIGEHIRO | European Patent Office | 2020

    Free access



    PROBE DATA CLEANSING PROCESSING APPARATUS AND PROBE DATA CLEANSING PROCESSING PROGRAM

    HAYASHI MASAHIRO / MATSUDAIRA MASAKI | European Patent Office | 2020

    Free access

    PROBE DATA COLLECTION METHOD AND PROBE DATA COLLECTION DEVICE

    NAKAMURA MASAHIDE | European Patent Office | 2020

    Free access