Un sistema de metrología óptica proyectiva que comprende: - un objetivo luminoso (2) formado por un primer número de fuentes de luz (4a-4c) que tienen una disposición espacial preestablecida; - una unidad óptica (6) que comprende un sensor de imagen optoelectrónico (10) que comprende una superficie de detección (A), estando configurada la unidad óptica para recibir una señal luminosa (R1, R2) que procede de dicho objetivo luminoso (2) y para la definir dos trayectorias ópticas diferentes para la señal luminosa hacia dicho sensor de imagen optoelectrónico; y - una unidad de procesamiento electrónico (30) conectada al sensor de imagen optoelectrónico; caracterizado por que las dos trayectorias ópticas están configuradas de modo que la señal luminosa forma, sobre el sensor de imagen optoelectrónico, al menos una imagen (I1; I2) del objetivo luminoso, estando configurada la unidad de procesamiento electrónico para procesar dicha al menos una imagen y para determinar al menos una cantidad que indique la disposición mutua del objetivo luminoso y de la unidad óptica; y en el que las dos trayectorias ópticas, el objetivo luminoso y la superficie de detección están configurados de modo que: - cuando el objetivo luminoso se coloca, respecto a la unidad óptica, a una distancia comprendida en un primer intervalo de distancias ([Dx, dmin]), la señal luminosa forma sobre la superficie de detección, a través de la primera trayectoria óptica de dichos dos trayectorias ópticas, una primera imagen (I1), en base a la que la unidad de procesamiento electrónico es capaz de determinar un número de máximos de intensidad de luz igual a dicho primer número; - cuando el objetivo luminoso se coloca, respecto a la unidad óptica, a una distancia que cae fuera de dicho primer intervalo de distancias ([Dx, dmin]), la señal luminosa no forma alternativamente, a través de dicha primera trayectoria óptica, ninguna imagen sobre la superficie de detección, o si no, forma, a través de dicha primera trayectoria óptica, una imagen en base a la que la unidad de procesamiento electrónico no es capaz de determinar un número de máximos de intensidad de luz igual a dicho primer número; - cuando el objetivo luminoso se coloca, respecto a la unidad óptica, a una distancia comprendida en un segundo intervalo de distancias ([Dmax, dx[), la señal luminosa forma sobre la superficie de detección, a través de la segunda trayectoria óptica de dichas dos trayectorias ópticas, una segunda imagen (I2), en base a la que la unidad de procesamiento electrónico es capaz de determinar un número de máximos de intensidad de luz igual a dicho primer número; y - cuando el objetivo luminoso se coloca, respecto a la unidad óptica, a una distancia que cae fuera de dicho segundo intervalo de distancias ([Dmax, dx[), la señal luminosa no forma alternativamente, a través de dicha segunda trayectoria óptica, ninguna imagen sobre la superficie de detección, o si no, forma, a través de dicha segunda trayectoria óptica, una imagen en base a la que la unidad de procesamiento electrónico no es capaz de determinar un número de máximos de intensidad de luz igual a dicho primer número.

    Described herein is a projective optical metrology system including: a light target (2) formed by a first number of light sources (4a-4c) having a pre-set spatial arrangement; and an optical unit (6) including an optoelectronic image sensor (10), which receives a light signal (R 1 , R 2 ) coming from the light target (2) and defines two different optical paths for the light signal towards the optoelectronic image sensor (10). The two optical paths are such that the light signal forms on the optoelectronic image sensor at most an image (I 1 ;I 2 ) of the light target that can be processed for determining at least one quantity indicating the mutual arrangement between the light target and the optical unit.


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    Title :

    Sistema de metrología óptica proyectiva gruesa y fina


    Contributors:

    Publication date :

    2016-05-03


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    Spanish


    Classification :

    IPC:    B64G Raumfahrt , COSMONAUTICS / G01C Messen von Entfernungen, Höhen, Neigungen oder Richtungen , MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS / G01S RADIO DIRECTION-FINDING , Funkpeilung



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