Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Funktionsüberprüfung eines Halbleiterschalters (T), der in einem Kraftfahrzeugbordnetz in einer Stromversorgungsleitung eines Verbrauchers (L) als Sicherung verwendet wird,• wobei die Anordnung einen Ausgang hat, der mit einem Steuerungsanschluss des Halbleiterschalters (T) verbunden ist und einen Eingang hat, mit dem die Spannung auf der Verbraucherseite des Halbleiterschalters (T) oder der Strom durch den Halbleiterschalter (T) erfassbar ist,• wobei die Anordnung ein Steuerungsmittel (C) aufweist, das mit dem Ausgang verbunden ist, und ein Überwachungsmittel (M) aufweist, das mit dem Eingang verbunden ist,• wobei das Steuerungsmittel (C) zur Erzeugung eines an dem Ausgang anliegenden Signals eingerichtet ist, mit dem zur Überprüfung der Funktion der Halbleiterschalter (T) für ein definiertes Zeitintervall abschaltbar ist, wobei das Zeitintervall so kurz ist, dass die Funktion des Verbrauchers (L) durch diese Abschaltung nicht beeinträchtigt ist, und• wobei das Überwachungsmittel (M) zur Überwachung des während des Zeitintervalls am Eingang anliegenden Stroms oder der während des Zeitintervalls am Eingang anliegende Spannung eingerichtet ist.

    An arrangement for testing the functionality of a semiconductor switch that is used as a fuse in a power supply line of a load in a motor vehicle electrical system. A voltage on the load side of the semiconductor switch or the current through the semiconductor switch can be detected. A controller is connected to the output and a monitoring component is connected to an input. The controller is configured to generate a signal which is applied to the output and via which the semiconductor switch can be switched off for a defined time interval in order to test the functionality, the time interval being so short that the functionality of the load is not impaired by this switching off. The monitoring component is configured to monitor the current applied to the input during the time interval or the voltage applied to the input during the time interval.


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    Title :

    Verfahren und Anordnung zur Funktionsüberprüfung eines Halbleiterschalters


    Contributors:

    Publication date :

    2023-08-24


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German


    Classification :

    IPC:    G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B60R Fahrzeuge, Fahrzeugausstattung oder Fahrzeugteile, soweit nicht anderweitig vorgesehen , VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR / H03K PULSE TECHNIQUE , Impulstechnik



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