Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erkennen eines zumindest teilweisen Ausfalls mindestens eines Halbleiterbauelements, das parallel zu anderen Halbleiterbauelementen geschaltet ist, bei dem ein Verlauf einer Versorgung, der durch ein Messsignal repräsentiert ist, eines Treibers, der zum Treiben der Halbleiterbauelemente vorgesehen ist, ermittelt und ausgewertet wird und aus einer Nachverarbeitung des Verlauf ermittelt wird, ob mindestens eines der parallelgeschalteten Halbleiterbauelemente ausgefallen ist.


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    Title :

    Verfahren zum Erkennen eines Ausfalls eines parallel geschalteten Halbleiters


    Contributors:

    Publication date :

    2018-05-30


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German


    Classification :

    IPC:    G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B60R Fahrzeuge, Fahrzeugausstattung oder Fahrzeugteile, soweit nicht anderweitig vorgesehen , VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR



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