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    Title :

    Rasterkraftmikroskop:Rauheit messen - neue Aspekte der Bewertung


    Additional title:

    Scanning force microscopy:roughness measuring - new aspects of rating.



    Published in:

    Publication date :

    1995


    Size :

    4 pages


    Remarks:

    Met.-Oberflaeche;49(1995)3;200-204


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German



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