Die Rauheit von Oberflaechen ermittelt Rasterelektronenmikroskope werden zu Messungen herangezogen
VDI-Nachr. ; 36 , 33
1982
1 pages
VDI-Nachr.;36(1982)33;8
Article (Journal)
German
Rauheit und Mikrostruktur optischer Oberflaechen
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