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    Title :

    Fehlerfreie Testumgebung: HiL im Einsatz


    Additional title:

    Zero-defect test bed: hardware-in-the-loop application.



    Published in:

    Publication date :

    2010


    Size :

    3 pages


    Remarks:

    Automotive electronics+systems;9(2010)11 ;44-46


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




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