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    Title :

    Surface and interface characterization by X-ray and electron spectroscopies - revealing the peculiarities of Cu(In,Ga)Se₂ chalcopyrite and CH₃NH₃PbI(₃-ᵪ)Clᵪ perovskite-based thin film solar cell structures


    Additional title:

    Oberflächen- und Grenzflächencharakterisierung mittels Röntgen- und Elektronenspektroskopie - Bestimmung der Besonderheiten von Cu(In,Ga)Se₂ Chalkopyrit- und CH₃NH₃PbI(₃-ᵪ)Clᵪ Perowskit-basierten Dünnschichtsolarzellenstrukturen


    Contributors:

    Publication date :

    2017


    Size :

    1 Online-Ressource


    Type of media :

    Theses


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    English



    Classification :

    BKL:    50.94 Mikrosystemtechnik, Nanotechnologie / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 33.07 Spektroskopie