Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Surface and interface characterization by X-ray and electron spectroscopies - revealing the peculiarities of Cu(In,Ga)Se₂ chalcopyrite and CH₃NH₃PbI(₃-ᵪ)Clᵪ perovskite-based thin film solar cell structures


    Weitere Titelangaben:

    Oberflächen- und Grenzflächencharakterisierung mittels Röntgen- und Elektronenspektroskopie - Bestimmung der Besonderheiten von Cu(In,Ga)Se₂ Chalkopyrit- und CH₃NH₃PbI(₃-ᵪ)Clᵪ Perowskit-basierten Dünnschichtsolarzellenstrukturen


    Beteiligte:
    Handick, Evelyn (Autor:in) / Bär, Marcus (Akademische:r Betreuer:in) / Schmeißer, Dieter (Akademische:r Betreuer:in) / Rech, Bernd (Akademische:r Betreuer:in)

    Erscheinungsdatum :

    2017


    Format / Umfang :

    1 Online-Ressource


    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    50.94 Mikrosystemtechnik, Nanotechnologie / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 33.07 Spektroskopie