In-situ ellipsometry, in-situ Raman spectroscopy, ion beam analysis, ion nanoprobe, luminescence imaging, photocurrent imaging, CuInSe2 solar cells, flexible substrate, pulsed laser deposition, ZnO thin films


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    Title :

    Elektronische und optische Eigenschaften, in-situ-Ramanstreuung, in-situ-Ellipsometrie und Ionenstrahlanalytik von flexiblen Cu-(In, Ga)-(Se, S)-Dünnfilm-Solarzellen : Schlussbericht des BMBF-Vorhabens ; über den Zeitraum 01. August 2001 - 31. Dezember 2003 ; innerhalb des BMBF-Wachstumskerns INNOCIS "Kostengünstige, fexible CIS-Photovoltaik


    Additional title:

    Electronic and optical properties, in-situ ellipsometry, in-situ Raman spectroscopy, and ion beam analysis of flexible Cu-(In, Ga)-(Se, S)-thin film solar cells



    Publication date :

    2004


    Size :

    Online-Ressource (60 S., 4,39 MB)


    Remarks:

    Ill., graph. Darst
    Förderkennzeichen BMBF 03 WKI 09. - Verbund-Nr. 01022292. - Engl. Titel: Electronic and optical properties, in-situ ellipsometry, in-situ Raman spectroscopy, and ion beam analysis of flexible Cu-(In, Ga)-(Se, S)-thin film solar cells
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    Auch als gedr. Ausg. vorh.
    Digital preservation by Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Type of media :

    Report


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German



    Classification :

    BKL:    52.78 Oberflächentechnik, Wärmebehandlung / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher