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    Title :

    Über den Zusammenhang von elektronischen Eigenschaften und Eigendefekten in CuInSe2-basierten Chalkopyrithalbleitern


    Contributors:

    Publication date :

    2000


    Size :

    133 S


    Remarks:

    graph. Darst


    Type of media :

    Theses


    Type of material :

    Print


    Language :

    German



    Classification :

    RVK:    UP 3100
    BKL:    33.61 Festkörperphysik / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher