Tezisy dokladov - 12 Naučno-Techničeskaja Konferencija Fotometrija i Ee Metrologičeskoe Obespečenie : Moskva, 1999 god, 23 - 24 fev.
Naučno-Techničeskaja Konferencija Fotometrija i Ee Metrologičeskoe Obespečenie ; 12 ; 1999 ; Moskva Naučno-Techničeskaja Konferencija Fotometrija i Ee Metrologičeskoe Obespečenie ; 12 (Moskva) : 1999.02.23-24
1999
75 S
Conference Proceedings
Microform
Russian