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    Title :

    Jahresbericht 1965/66 / Siemens Aktiengesellschaft ; T. III: Strahlentestuntersuchungen mit 500/750-keV-Elektronen und mit 30/40-keV-Elektronen an Silizium-npn-Planar-Transistoren




    Publication date :

    1965


    Size :

    S. 111 - 165


    Type of media :

    Book


    Type of material :

    Print


    Language :

    Unknown