Jahresbericht 1965/66 / Siemens Aktiengesellschaft ; T. III: Strahlentestuntersuchungen mit 500/750-keV-Elektronen und mit 30/40-keV-Elektronen an Silizium-npn-Planar-Transistoren
1965
S. 111 - 165
Book
Unknown
IuD Bahn | 1994
|Elektronen-Energie-Verlust-Spektrometrie
TIBKAT | 1974
|Tema Archive | 1986
|Messtechnik: Einzelne Elektronen gezielt verschoben
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