In diesem Artikel wird auf die verschiedenen Messmethoden zur Charakterisierung der elektromagnetischen Störemission von integrierten Schaltungen eingegangen, die in einem Team zur internationalen Normung erarbeitet wurden. Die Normung von IC-Messmethoden ist weltweit der erste Versuch, mittels charakterisierter Einzelhalbleiter das EMV-Verhalten eines zu entwickelnden Kfz-Systems prognostizieren zu können. Die praktischen Einsatzgebiete, die Aussagekraft der unterschiedlichen Messmethoden sowie deren Vor- und Nachteile werden anhand von Beispielen vorgestellt. Ferner wird diskutiert, wie die gewonnenen Ergebnisse für entwicklungsunterstützende Simulationen herangezogen werden können.
Aussagekräftige EMV Charakterisierung von Kfz-Halbleitern
Expressive EMC characterization of automotive semiconductor devices
2001
6 Seiten, 11 Bilder, 6 Quellen
Aufsatz (Konferenz)
Deutsch