This paper describes the standard cell ASIC design methodology for a serial bus controller chip. This is a prototype CMOS chip which was designed in 19 weeks for an automotive application. The chip includes testability circuits which help attain 98% fault coverage.


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    Titel :

    A Fast-Turnaround, Easily Testable ASIC Chip for Serial Bus Control


    Weitere Titelangaben:

    Sae Technical Papers


    Beteiligte:
    Ellis, Don (Autor:in) / Trivedi, Shailesh (Autor:in)

    Kongress:

    SAE Future Transportation Technology Conference and Exposition ; 1987



    Erscheinungsdatum :

    1987-08-01




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch