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    Titel :

    Contact dynamics of tapping mode atomic force microscopy



    Erschienen in:

    Journal of sound and vibration ; 331 , 23 ; 5141-5153


    Erscheinungsdatum :

    2012



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    33.12 Akustik / 50.36 Technische Akustik / 53.79 Elektroakustik, Tonstudiotechnik / 58.56 Lärmschutz, Erschütterungsdämpfung / 50.32 Dynamik, Schwingungslehre
    Lokalklassifikation TIB:    275/3425



    Hybrid, Model-Based Tapping Atomic Force Microscope

    Bucher, Izhak / Baruch, Eyal | Springer Verlag | 2025


    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998


    Atomic Force Microscopy Studies of Fibers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Atomic force microscopy in zero-g

    Friedfeld, R. / Parker, S. / Rodgers, G. et al. | IEEE | 2003


    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. et al. | British Library Online Contents | 1996