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    Titel :

    Variogram analysis of charge-carrier effective lifetime topograms in mc-Si materials



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2010



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    50.70 Energie: Allgemeines / 52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 52.52 Thermische Energieerzeugung, Wärmetechnik / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher




    On the standard deviation in charge-coupled device cameras: A variogram-based technique for nonuniform images

    Sanchez-Brea, L. M. / Bernabeu, E. | British Library Online Contents | 2002



    RIE-induced carrier lifetime degradation

    Zin, Ngwe Soe | Online Contents | 2010


    Improving MOS minority-carrier lifetime

    Cockrum, R. H. / Li, S. P. / Prussin, S. | NTRS | 1981