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    Titel :

    Study of the solid phase crystallization behavior of amorphous sputtered silicon by X-ray diffraction and electrical measurements




    Erscheinungsdatum :

    2002



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 52.52 Thermische Energieerzeugung, Wärmetechnik / 52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 50.70 Energie: Allgemeines



    Electrical field and stress effects on metal induced crystallization of sputtered silicon

    Hsu, C.-M. / Chen, I.-F. / Yu, M.-C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Electrical field and stress effects on metal induced crystallization of sputtered silicon

    Ching-Ming Hsu, / lan-Fu Chen, / Ming-Chang Yu, | IEEE | 2003




    Magnetron-Sputtered Amorphous Metallic Coatings

    Thakoor, A. P. / Mehra, M. / Khanna, S. K. | NTRS | 1985