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    Titel :

    Collaborative Evaluation of GaN FETs and Gate Drivers


    Beteiligte:
    Kristen Boomer (Autor:in) / Christopher Tiu (Autor:in) / Ahmad Hammoud (Autor:in)

    Kongress:

    NASA Electronic Parts and Packaging Program Electronic Technology Workshop (NEPP ETW) ; 2023 ; Greenbelt, MD, US


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Sub-quarter-micrometer-like V-gate pseudomorphic doped-channel FETs

    Tan, S.W. / Chen, W.T. / Chu, M.Y. et al. | IEEE | 2002


    Functionality and Performance Evaluation of Gate Drivers under Cryogenic Temperature

    Wei, Yuqi / Hossain, Md Maksudul / Sweeting, Rosten et al. | IEEE | 2021


    Adaptive gate drivers and related methods and systems

    LI XIONG / SHOOK ADAM LEE | Europäisches Patentamt | 2021

    Freier Zugriff

    ADAPTIVE GATE DRIVERS AND RELATED METHODS AND SYSTEMS

    LI XIONG / SHOOK ADAM LEE | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff

    Adaptive gate drivers and related methods and systems

    LI XIONG / SHOOK ADAM LEE | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff