No abstract provided


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Characterisation of Silicon Lattice Defects using CCDs


    Beteiligte:
    Bush, Nathan L (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    04.03.2021


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch



    CCDs point the way

    King, D. | Tema Archiv | 1988


    High accuracy sun sensor using CCDs

    NINOMIYA, KEIKEN / OGAWARA, YOSHIAKI / TSUNO, KATSUHIKO et al. | AIAA | 1988


    Gamma noise in CCDs

    Autio, G.W. / Bafito, M.A. | Tema Archiv | 1975


    Development of X-Ray CCDs

    Burt, D. J. | British Library Online Contents | 1992


    Electron multiplying CCDs [4877-07]

    Denvir, D. J. / Conroy, E. | British Library Conference Proceedings | 2003