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    Titel :

    Investigation of High Current Events in Highly Scaled NAND Flash Memories


    Beteiligte:
    Irom, Farokh (Autor:in) / Nguyen, Duc N. (Autor:in)

    Kongress:

    NASA Electric Parts and Packaging Program (NEPP) ; 2011 ; Washington, DC, United States


    Erscheinungsdatum :

    2011-06-15


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




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