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    Titel :

    Extreme thermal environmental tests of plastic encapsulated cots


    Beteiligte:
    Kim, Q. (Autor:in) / Okuno, J. O. (Autor:in) / Evans, K. C. (Autor:in) / Knudson, D. (Autor:in) / Mih, D. T. (Autor:in) / Gerke, R. D. (Autor:in) / Sandor, M. A. (Autor:in)

    Kongress:

    3rd Annual IEEE Microelctronics Reliability and Qualification Workshop


    Erscheinungsdatum :

    17.08.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Extreme thermal environmental tests of plastic encapsulated COTS

    Kim, Q. / Okuno, J. O. / Evans, K. C. et al. | NTRS | 2000




    Radiation tests on the COTS image sensor from CMOSIS

    Adamiec, Pawel / Barbero, Juan / Lopez Moya, Alejandro et al. | British Library Conference Proceedings | 2019


    Model-based design tools for extending COTS components to extreme environments

    Mantooth, H.A. / Levy, A. / Francis, A.M. et al. | IEEE | 2006