Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Ballistic-electron-emission microscopy of device materials and structures


    Beteiligte:
    Bell, L. D. (Autor:in)

    Kongress:

    University of Madrid Summer School on Imaging and Manipulation of Matter at the Nanometer Scale


    Erscheinungsdatum :

    09.08.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch






    Ballistic-Electron-Emission Microscope

    Kaiser, William J. / Bell, L. Douglas | NTRS | 1990



    Pultruded Composite Ballistic Materials

    Hartman, P. / Erb, D. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2003