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    Titel :

    Atomic Force Microscope for Planetary Applications


    Beteiligte:
    Pike, W. (Autor:in) / Hecht, M. (Autor:in) / Akiyanna, T. (Autor:in) / Gautsch, S. (Autor:in) / Staufer, U. (Autor:in) / Rooij, N. de (Autor:in) / Niedermann, P. (Autor:in) / Howard, L. (Autor:in) / Muller, D. (Autor:in) / Tonin, A. (Autor:in)

    Kongress:

    Sensors and Actuators 2000


    Erscheinungsdatum :

    06.06.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Miniaturized atomic force microscope for planetary exploration

    Gautsch, S. / Staufer, U. / Akiyama, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Miniaturized atomic force microscope for planetary exploration

    Gautsch, S. / Staufer, U. / Akiyama, T. et al. | Tema Archiv | 2001


    Atomic-force microscope makes silicon microlenses

    British Library Online Contents | 2005


    Hybrid, Model-Based Tapping Atomic Force Microscope

    Bucher, Izhak / Baruch, Eyal | Springer Verlag | 2025


    Atomic-force microscope can watch paint dry

    British Library Online Contents | 2005