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    Titel :

    Atomic-force microscope makes silicon microlenses


    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 41 , 5 ; 15


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    15 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Atomic Force Microscope for Planetary Applications

    Pike, W. / Hecht, M. / Akiyanna, T. et al. | NTRS | 2000


    Theory of Dispersive Microlenses

    Herman, B. / Gal, G. / National Aeronautics and Space Administration | British Library Conference Proceedings | 1993


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    British Library Online Contents | 1996


    Hybrid, Model-Based Tapping Atomic Force Microscope

    Bucher, Izhak / Baruch, Eyal | Springer Verlag | 2025


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    British Library Online Contents | 2005