Circuit designed for measurement of dc current-versus-voltage characteristics of semiconductor devices. Operates in conjunction with x-y pen plotter or digital storage oscilloscope, which records data. Includes large feedback resistors to prevent high currents damaging device under test. Principal virtues: low cost, simplicity, and compactness. Also used to evaluate diodes and transistors.


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    Titel :

    Circuit For Current-vs.-Voltage Tests Of Semiconductors


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.04.1991



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




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