Equations derived to estimate obscuration ratios of surfaces contaminated by particles. Ratio is fraction of surface area covered by particles. Useful as index of cleanliness in clean-room operations in manufacturing of semiconductor devices, magnetic recording media, optical devices, and pharmaceutical and biotechnological products.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Calculating Obscuration Ratios Of Contaminated Surfaces


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.08.1989



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    REMOTE DEPLOYED OBSCURATION SYSTEM

    SCHNEIDER CHAD MICHAEL / KRUEGER CHRISTINA / JASIUKAITIS ANDREY | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff

    REMOTE DEPLOYED OBSCURATION SYSTEM

    SCHNEIDER CHAD / KRUEGER CHRISTINA / JASIUKAITIS ANDREY | Europäisches Patentamt | 2019

    Freier Zugriff

    Instrument cluster display obscuration tool

    SCOLARO CHRISTOPHER P / SMELTZER JOSEPH | Europäisches Patentamt | 2025

    Freier Zugriff

    INSTRUMENT CLUSTER DISPLAY OBSCURATION TOOL

    SCOLARO CHRISTOPHER P / SMELTZER JOSEPH | Europäisches Patentamt | 2025

    Freier Zugriff

    Dust Obscuration of Mars Solar Arrays

    Landis, G. A. / International Astronautical Federation | British Library Conference Proceedings | 1994