Report provides nearly comprehensive body of data on single-event upsets due to irradiation by heavy ions. Combines new test data and previously published data from governmental and industrial laboratories. Clear trends emerge from data useful in predicting future performances of devices.


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    Titel :

    Trends In Susceptibility To Single-Event Upset


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1989



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Trends in parts susceptibility to single event upset from heavy ions

    Nichols, D. K. / Price, W. E. / Kolasinski, W. A. et al. | NTRS | 1986


    Recent Trends in Parts SEU (Single Event Upset) Susceptibility from Heavy Ions

    D. K. Nichols / L. S. Smith / W. E. Price et al. | NTIS | 1988


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    Single-Event-Upset Studies: A Compilation

    Nichols, D. K. / Price, W. E. / Malone, C. J. et al. | NTRS | 1986